Акустический сканирующий микроскоп DJ-SAM200S

Dr.J Scientific (Китай)

ПРИМЕНЕНИЕ

полупроводники, композитные материалы, вакуумная пайка, где требуется среднее и большое рабочее пространство

ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Эффективный диапазон сканирования: 900 мм × 600 мм × 250 мм (DJ-SAM200S), 1500 мм × 1200 мм × 500 мм (DJ-SAM200L);
Максимальная скорость сканирования: 500 мм / с; максимальное ускорение сканирования: 3 м / с²;
Рекомендуемое разрешение для изображений: 0,5мкм ~ 4000 мкм

Характеристики

Разрешение изображений: 0,5мкм ~ 4000 мкм

Диапазон сканирования: 900 мм × 600 мм × 250 мм

Макс.скорость сканирования: 500 мм/с

Макс.ускорение сканирования: 3 м/с²

Типичное время сканирования: <60S (условия тестирования: зона сканирования 10mmx10mm, соотношение разрешения 50um);

Точность позиционирования: X / Y ± 1мкм, ось Z <± 10мкм; повторная точность позиционирования: X / Y <± 0,02 мм, Z <± 0,02 мм;

Диапазон частот детектора:: 1 ~ 50 МГц; (стандартный, может быть обновлен до 230 МГц);

Регулируемое усиление на канал: -13 ~ 66 дБ; (стандартный, обновляемый);

Мощность: 220 В ± 10% / 50 Гц, 3 кВт;

Серия: SAM200

lwh: 1800x1300x1550