Спецификация микропозиционера
Утечка тока
Коаксиальный 1пА/В @ 25 °C; Трехкоаксиальный 100фА/В @ 25 °C; Трехкоаксиальный 10пА@3кВ @25 °C,Условия испытаний: сухая среда для заземляющего экрана (точка росы воздуха ниже – 40 °С)
Тип разъема
Адаптер с разъемом типа “банан” / коаксиальный / трехосевой / SMA /SHV и т.д.
Оптическая система с многократным увеличением
Микроскоп с трехскоростным увеличением 15:1, может одновременно показывать изображения с низким, средним и высоким увеличением, легко наводить иглу
Широкое применение
Поддержка тестирования SiC/GaN пластин, тестирование мощных пластин Сменная конструкция патрона для тестирования различных пластин
Функции программного обеспечения
- Поддержка полуавтоматического управления (возможен ручной тест или переход на автоматический)
- Автоматическое выравнивание пластин
- Автоматическое измерение размера матрицы
- Автоматическое картирование пластин и удаленный доступ к данным
- Свободное управление и программирование входных и выходных параметров
- Быстрая интеграция нескольких тестеров
- Автоматическая радиочастотная калибровка одной кнопкой, функция автоматической очистки иглы
- Операционная система и приложения полностью разделены; операционная система, операционная система, прикладная система и система тестирования устройств могут быть модернизированы независимо друг от друга
- Поддержка тестирования по одной точке и непрерывного тестирования
- Автоматическое сохранение данных и кривых, синхронная обработка данных
- Классификация результатов тестирования по различным значениям бинов и отображение их разным цветом на карте пластин
- Контроль предельной скорости и блокировка безопасности
Приложение
Классификация в соответствии с тестируемыми образцами- Тестирование пластин
- LED тест
- Тестирование силового устройства
- Тест MEMS
- Тест PCB
- Тест ЖК-панели
- Тестирование солнечных элементов
- Испытания удельного сопротивления
Классификация в зависимости от области применения- Радиочастотное (RF) тестирование
- Испытание на воздействие повышенной температуры
- Испытание на низкий ток (уровень 100 кА)
- I-v/c-v/p-iv тесты
- Испытание на высокое напряжение, большой ток
- Испытание на воздействие магнитного поля
- Испытания в радиационной среде