Полуавтоматическая зондовая станция Semishare X6/X8/X12

SEMISHARE
Полуавтоматическая зондовая станция серии SEMISHARE X предназначена для наведения электрода пробоотборника через зонд или плату зонда в условиях от -60 ℃ до 300 ℃, загрузки и измерения электрического сигнала путем подключения тестового прибора, а также управления, оценки и сохранения электрического сигнала на стороне программного обеспечения и подачи сигнала на оценочная информация возвращается в струйную систему для маркировки дефектного чипа (матрицы).

Среди прочего, метод маркировки может быть установлен в соответствии с требованиями заказчика.

После завершения испытания одной стружки (матрицы) механическая платформа патрона перемещается к следующей стружке (матрице) для тестирования с помощью системы программного управления, и циклическое тестирование выполняется по очереди.

ПРЕИМУЩЕСТВА
  •  Рабочая скорость может достигать 70 мм/с, а эффективность тестирования повышается более чем на 40%
  • широкий диапазон испытательных температур от -60℃ до 300℃
  • Усовершенствованная оптическая система отображения с многократным увеличением, высокоточные измерения и динамический мониторинг, более удобное управление наведением иглы
  • 7* 24 часа всепогодного обнаружения на чипе
  • Независимые исследования и разработка интегрированной системы программного обеспечения, повышающая совместимость

КУПИТЬ ЗОНДОВУЮ СТАНЦИЮ
Заказать/купить зондовую установку можно несколькими способами:
  1. Сделайте заказ/покупку через кнопку КУПИТЬ: заполните контактные данные и отправьте запрос. Менеджер ответит Вам в течение 1-2 часов.
  2. Напишите на e-mail: info@terramak.ru, указав название модели. Наш менеджер свяжется с Вами в течение 1-2 часов для уточнения деталей запроса.
  3. Позвоните по телефонам +7 495 404 17 94, 8 800 707 83 94 (бесплатный звонок по России). Секретарь соединит с ответственным за оборудование менеджером.

УСЛОВИЯ ПОСТАВКИ

  • срок поставки 2-4 месяца;
  • доставка по России и СНГ;
  • гарантия на установку 12 месяцев;
  • расширенная гарантия за доп.плату;
  • техническая поддержка, консультации бесплатно;
  • участие в тендерах и Госзакупках

Диапазон перемещения XY: 350mm*365mm

Разрешение XY: 0.1μm

Повторяемость XY: ≦±1μm

Скорость перемещения XY: ≦70mm/s

Z Диапазон перемещения: 20mm

Z Разрешение: 0.1μm

Z Повторяемость: ≦±1μm

Z Скорость перемещения: ≦20mm/s

Диапазон: -60°C-300°C

Стабильность: 0.1°C

Разрешение: 0.01°C

СЕРИЯ: X

Спецификация микропозиционера
Оптическая система с многократным увеличением
Широкое применение
Функции программного обеспечения
Приложение

Спецификация микропозиционера

Утечка тока
Коаксиальный 1пА/В @ 25 °C; Трехкоаксиальный 100фА/В @ 25 °C; Трехкоаксиальный 10пА@3кВ @25 °C,Условия испытаний: сухая среда для заземляющего экрана (точка росы воздуха ниже – 40 °С)

Тип разъема
Адаптер с разъемом типа “банан” / коаксиальный / трехосевой / SMA /SHV и т.д.

Оптическая система с многократным увеличением

Микроскоп с трехскоростным увеличением 15:1, может одновременно показывать изображения с низким, средним и высоким увеличением, легко наводить иглу

Широкое применение

Поддержка тестирования SiC/GaN пластин, тестирование мощных пластин Сменная конструкция патрона для тестирования различных пластин

Функции программного обеспечения

  • Поддержка полуавтоматического управления (возможен ручной тест или переход на автоматический)
  • Автоматическое выравнивание пластин
  • Автоматическое измерение размера матрицы
  • Автоматическое картирование пластин и удаленный доступ к данным
  • Свободное управление и программирование входных и выходных параметров
  • Быстрая интеграция нескольких тестеров
  • Автоматическая радиочастотная калибровка одной кнопкой, функция автоматической очистки иглы
  • Операционная система и приложения полностью разделены; операционная система, операционная система, прикладная система и система тестирования устройств могут быть модернизированы независимо друг от друга
  • Поддержка тестирования по одной точке и непрерывного тестирования
  • Автоматическое сохранение данных и кривых, синхронная обработка данных
  • Классификация результатов тестирования по различным значениям бинов и отображение их разным цветом на карте пластин
  • Контроль предельной скорости и блокировка безопасности

Приложение

Классификация в соответствии с тестируемыми образцами
  • Тестирование пластин
  • LED тест
  • Тестирование силового устройства
  • Тест MEMS
  • Тест PCB
  • Тест ЖК-панели
  • Тестирование солнечных элементов
  • Испытания удельного сопротивления

Классификация в зависимости от области применения
  • Радиочастотное (RF) тестирование
  • Испытание на воздействие повышенной температуры
  • Испытание на низкий ток (уровень 100 кА)
  • I-v/c-v/p-iv тесты
  • Испытание на высокое напряжение, большой ток
  • Испытание на воздействие магнитного поля
  • Испытания в радиационной среде
Посмотрите другие товары